K-alpha了解客户对于高精度、高可靠性与高品质仪器设备的需求。在镀层测厚仪及元素分析领域,K-alpha拥有超过三十年的丰富经验。K-alpha的前身是CMI国际,CMI曾是一家总部设在美国的的仪器公司,主要生产XRF镀层测厚仪及元素分析仪器。CMI于2002年被牛津仪器收购,但作为镀层分析领域的专业品牌,CMI至今仍被市场所熟知和认可,2007年,CMI团队成员整装待发,重新组建K-alpha仪器公司,研发和生产博曼镀层测厚仪,旨在为客户提供更精准的镀层测厚产品以及服务。



K-alpha主要团队成员介绍

Tom Leone,毕业于美国福特汉姆大学,在XRF测厚领域拥有30余年的丰富经验,CMI创始人,曾就职于多家国际大型仪器公司在美国地区销售总监,现任K ALPHA(美国博曼母公司)联合创始人。


Jun Choi,韩裔美国人,毕业于美国加利福利亚大学伯克利分校,曾在美国多家仪器公司任技术总监等职务,在XRF镀层测量及元素分析领域拥有丰富经验,Jun是K ALPHA(美国博曼母公司)创始人之一,也是美国博曼测厚仪的主要研发人员。


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K-alpha,具有凝聚力和丰富经验的团队

2016-10-28

K ALPHA并购博曼分析
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