金属镀层测量（Al13 – U92）

Bowman美国总部全方位服务标准实验室已通过ISO/IEC 17025:2017校准认可。

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Bowman XRF膜厚分析技术：

↘ 满足IPC4552/4556要求
↘ 金属镀层厚度，元素分析，电镀液分析
↘ 快速无损测量，检测下限低至1nm

↘ 满足常规应用的准直器机型
↘ 可测量微米级别区域的微区毛细管机型
↘ 可选配RoHS筛选分析

↘ 可符合SEMI S2，S8规定