JSM-IT300

JSM-IT300扫描电子显微镜经过改进照射系统、真空系统和信号处理系统,不仅能观察高质量的图像,还能利用触控屏和快速样品台进行高通量的直观操作。

• 高品质的图像

通过改进电子光学系统,使图像质量更高,分析更快。

 

• 减少了充放电现象

新的扫描方式能抑制非导电性样品的荷电效应。

 

• 低真空模式(LV)

低真空压力范围从10 Pa  650 Pa,拓宽了可以观察的样品材料的范围。

 

• 样品台导航系统

全自动轴马达驱动样品台提高了寻找感兴趣的区域(ROI)的速度。使用导航系统(选配件)在彩色图像上能迅速到达感兴趣的区域。

 

• 大型样品室和样品台。

能容纳大型、较重的样品,可装载最大尺寸为200 mmφ× 80 mm H)、重达2 kg 的样品。

 

• 最佳几何设计的分析接口。

多个接口可以安装EDSEBSD WDS 等附件, EDS EBSD 处于同一平面,此外,还能安装两个相隔180 度的EDS 检测器用于高通量的显微分析。


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