JIB-4600F

随着材料科学的发展和各种工艺水平的提高,样品截面的高分辨观察和高精度分析需求增加.人们需要一种简单快速的截面制作仪器, JIB-4600F就是可以满足此种需求的集加工和观察与一体的多功能仪器.

主要特点:

· 浸没式热场发射电子枪

· 提供高稳定的电子束束流,与最佳光栏角控制透镜配合获得高分辨图像. 

· 电子束大电流高速分析

· 电子束最大束流强度200nA 

· 离子束大电流模式 

· 加工速度很快 

· 实时监控加工过程

· 通过扫描电镜图像可以实时监控加工过程,提高了内部结构分析和获得TEM用薄膜样品的效率。

· 扩展性极强 

· 大样品台最大装样直径50mm,并且可以同时安装EDS, EBSD, and CLD等探头

 

技术参数: 

FIB 

离子源:Ga(镓)液态金属离子源

保证分辨率: 5 nm 以下(加速电压 30 kV)

加速电压: 5 to 30 kV

放大倍数: x30 (广域)

x100 - x300,000

最大束流:30 nA 

SEM

浸没式热场发射电子枪 

保证分辨率: 1.2 nm (电压 30 kV)

加速电压: 0.2 to 30 kV

放大倍数:x50 - x1,000,000

最大束流: 200 nA 

样品台移动范围:X:50mm , Y:50mm , Z:1.540mm , T:570° , R:360°

产品详情

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