BA-100

美国博曼(Bowman)BA-100 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪;为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。

美国博曼(Bowman)BA-100 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪-为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。


美国博曼(Bowman)分析仪器即使在客户遇到最严格的测试要求时也能够实现快速、方便、高效的XRF分析效果。


智能的紧凑式设计使得分析各种各样的应用变得更方便,在合理的价格范围内显著提升您的镀层产品质量控制。

 

性能与可操作性的最优化

紧凑式设计,改善效率和精度

高分辨半导体固态探测器(Si-PIN),提高稳定性和灵敏度

更短的预热时间,更长寿命的光管

多种规格一次滤波器和准直器

可变焦距适应复杂样品的测量需求

模块化设计,方便维修、维护 


简单的设计、强大的分析能力

快速、无损的分析

成份分析最多可达25种元素

同时可最多分析5层

基于基本参数法的镀层和成份分析方法

仅需一根USB线与电脑连接

快捷的面板控制按钮

占用空间小、轻量化设计 


直观的用户界面

最大的分析灵活性,减少用户出错机会

基于Net framework框架的Xralizer软件

直观的图标引导用户界面

强大的定性、无标样分析功能

功能强大的标准片库

用于快速分析的可定制快捷键

灵活的数据显示与导出

强大的报告编辑生成器

产品详情

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