EDS

EDS可用于扫描,透射及FIB电镜获得样品的元素及化学成分。

EDS可用于扫描,透射及FIB电镜获得样品的元素及化学成分。牛津仪器最新推出的AZtec系统是新一代材料特征分析的工具,适用于准确采集微纳米材料的定量及面线分布数据。

  • AZtecEnergy分析软件以及一系列适于SEM或FIB的SDD探测器

  • AZtecTEM软件及标准或无窗型X-MaxN SDD能谱仪,适用于TEM电镜

  • 同时提供枪击残留物分析(GSR),薄膜分析Thinfilm,矿物解离分析及更多

AZtecEnergy彻底改变您采集、处理能谱数据的方式。无论初学者还是专业人士,都将在更高的分辨率下以更快的速度获得更加准确的结果。

AZtec总览

  • 高效-电制冷能谱仪可以在极高的计数率下工作,使原来几分钟完成的工作缩短为几秒钟

  • 灵活-导航模式及自定义模式,允许不同用户在自己喜欢的模式下工作

  • 多任务-采集、分析、输出报告同时完成

  • 创新- TruMap/TruLine采集同时进行谱峰剥离,获得真实的面\线分布

  • 准确-依赖全新的探测器及完善的硬件校准,AZtec的定量准确性可以与无标样定量分析媲美

  • 可重复性-结合用户配置文件、步骤说明以及最新Tru-Q引擎,确保可重复的准确结果。

最新一代X-MaxN大面积SDD能谱仪于2012年8月横空出世,携最新硅晶体、最新电路设计以及最新技术带来新一代能谱仪的全面改观。

X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析专用150 mm2的共四种可选。尤其是150 mm2为当今晶体面积最大的探测器,分析速度至少是普通探测器的两倍。


总览

  • 探测器晶体尺寸可选,分别为150 mm2,80 mm2,50 mm2,20 mm2

  • 无论晶体面积或大或小,X-MaxN 的分辨率始终如一的好——并符合标准ISO15632:2012

  • 无论晶体尺寸如何,能谱仪外管尺寸及在电镜中的位置完全一致,确保相同条件下,计数率的增加只源于晶体尺寸的增加

  • 强大的低能端分析,所有晶体面积的能谱仪均保证由Be开始

  • 与上一代X-Max同,无论SEM或FIB均使用同一界面

X-act是一款无论在低或高计数率下皆可实现全面定性定量分析的电制冷能谱仪。此款能谱仪具有牛津仪器的最新技术,可以满足基本能谱分析的需要。

X-act结合40多年牛津仪器的能谱经验以及世界各地销售、服务和专家的支持而诞生出的一款多功能电制冷能谱仪。


介绍

  • 检测元素从Be始

  • 分辨率达到129eV

  • 分辨率测试满足国际标准ISO 15632:2012

  • 可以配备INCA® 以及AZtec® 能谱分析软件

产品详情

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