TranSpec Lite

TranSpec Lite 系列白光干涉光谱仪,用于有机膜厚测量,在车灯,薄膜,半导体等行业有众多的应用实例。

 技术特点

  • 光学方法,非接触、无损测量,安全无辐射。

  • 快速膜厚分析,只需几毫秒即可获得测量结果

  • 膜厚测量范围 0.1 - 150 微米 ( 0.004 to 6 mil )

  • 极高的分析准确度,在整个厚度测量范围内偏差小于0.005微米

  • 可同时分析计算两层膜厚

  • 可同时支持实验室离线分析或者在线生产分析 



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