X-Strata920

应用于常规金属处理、电子元器件制造和金属测定(如珠宝鉴定)等行业,完成单层或多层厚度测量。

X-Strata920是一款结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。


它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。   

 

高性能、高精度、长期稳定性

  • 快速精确的分析带来生产成本最优化

  • 精确测定元素厚度

  • 优化的性能可满足广泛的元素测量


坚固耐用的设计

  • 可靠近生产线或在实验室操作

  • 生产人员易于使用


简单的校准调试

  • 在没有标准片时,经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果

  • 方法建立只需几分钟

  • 我们提供认证标准片以确保最佳精确度(A2LA 和 ISO/IEC17025)

  • 预置了多种校准参数


可分析多种样品形状和尺寸

  • 可分析多种样品类型,从微小的电子元件到浴室配件

  • 提供多种硬件供选配,满足各种需要

产品详情

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