26届中国国际电子电路展览会(简称2017 CPCA)将于2017年3月7日至9日在上海国家会展中心盛大举行,全球领先的镀层测厚仪品牌博曼(Bowman)将携全新15um毛细管光学聚焦测厚仪重磅登场。博曼以全球领先的镀层测厚产品和技术,为线路板企业提供优质的镀层测厚解决方案。


安柏来科学仪器展位号:7.1H馆 7B93


博曼(Bowman)在上届展会推出的BA-100 系列测厚仪,凭借测量准确,高性价比和使用方便的性能,给观众留下深刻印象。本届展会,博曼(Bowman)将向观众推出全新15um毛细管光学聚焦测厚仪。该机型功能更强大,通过采用最前沿的u-SPOT多导毛细管,可实现对极小测量斑点的测量。高能量的X射线光束,搭配大窗口SDD探测器,可实现ENIG,ENPIG和化学镍中的%P分析。


美国博曼BA-100 M系列 镀层测厚仪


博曼测厚仪(前身是CMI测厚仪)已在涂镀层测厚和元素分析领域拥有超过30余年的丰富经验。CMI900系列也一度成为线路板镀层测量的最热门机型。随着博曼的回归,CMI的镀层测厚技术和产品品质也将从博曼重新得到延续。欢迎各位CMI的老用户光顾7.1H馆7B93展位,参与“老朋友新博曼”合影活动,与博曼测厚仪合影,就可获得精美的礼品。


关于安柏来科学仪器

安柏来科学仪器(上海)有限公司成立于上海,在广东、浙江设有服务点。我们致力于成为客户的技术采购伙伴。经过多年的发展,安柏来科学仪器已发展成为销售多元化设备的专业供应商。我们的产品线包括XRF镀层测厚仪、手持式测厚仪、白光干涉膜厚仪、扫描电子显微镜、三维轮廓仪、直读光谱仪等。我们计划在中国建立ISO17025认证实验室,用专心、专注、专业的态度地为我们的客户提供服务。欲了解更多信息,请登录网站:www.applytest.com


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