华南地区最大的PCB及电子组装展览会,2016 HKPCA & IPC Show于12月9日下午在深圳会展中心完美落幕。安柏来科学仪器联合美国博曼在本届展会上首次发布全球测量斑点最小的XRF镀层测厚仪。


美国博曼发布全球测量斑点最小的镀层测厚仪


美国博曼的前身是CMI,作为全球镀层测厚仪的领先品牌,发展至今已超过三十年的历史。随着美国博曼的创立,CMI的品牌精神和产品品质也在博曼中得到延续发展。本届展会,安柏来展位吸引了众多以前使用CMI的老用户。拥有更高科技含量的博曼测厚仪受到老用户的认可与好评。美国博曼联合创始人Jun Choi先生(前CMI产品经理)来到展会现场,Jun Choi先生表示:“30年的友谊,让CMI老用户与我们再次相聚,非常感谢老朋友们的支持。对于未来,我很期待,因为我们的团队会研发出更好的产品来满足客户对于镀层厚度测量的需求。作为美国博曼在中国地区的总代理,安柏来科学仪器与美国博曼共建的的应用实验室正在筹备中,预计将于2017年元旦后正式启用!届时,安柏来科学仪器将有能力提供最专业的技术支持为中国区用户提供高标准的服务。


安柏来科学仪器展位观众如潮


关于安柏来科学仪器

安柏来科学仪器(上海)有限公司成立于上海,在广东、浙江设有服务点。我们致力于成为客户的技术采购伙伴。经过多年的发展,安柏来科学仪器已发展成为销售多元化设备的专业供应商。我们的产品线包括XRF镀层测厚仪、手持式测厚仪、白光干涉膜厚仪、扫描电子显微镜、三维轮廓仪、直读光谱仪等。我们计划在中国建立ISO17025认证实验室,用专心、专注、专业的态度地为我们的客户提供服务。欲了解更多信息,请登录网站:www.applytest.com


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精彩瞬间 | 2016 HKPCA & IPC Show

2017-01-13

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