SEMICON China 2014于2014-03-18至2013-03-20在上海新国际博览中心隆重举行,安柏来科学仪器(上海)有限公司携手韩国Nanosystem公司参展。 


  本次展会主要向客户展示我司引进韩国Nanosystem公司的Nano view系列非接触式3D光学轮廓仪,Nano view系列3D轮廓仪为各种工业领域提供高精度的测量。包括:液晶显示器LCD/等离子显示器PDP:高度 ,特征尺寸,面积与缺陷分析;芯片封装/基板/积层板:高度, 宽度, 导通孔和体积的深度, 热变形和共面性的测量,样品的表面粗糙度;半导体/微电子机械系统:高度,宽度,形状,表面粗糙度和缺陷分析;工程表面:表面粗糙度,质量控制,形状和设计的几何特性.展会期间,众多行业相关人前来参观洽谈合作,安柏来及Nanosystem公司工作人员给予详细的介绍和解答。通过此次展会,提高了安柏来行业的认知度,树立我们的形象,扩大了同行业人士的交流。

 

 


 

关于SEMICON

  自1988年首次在上海举办以来,SEMICON China已成为中国首要的半导体行业盛事之一,囊括当今世界上半导体制造领域主要的设备及材料厂商。SEMICON China见证了中国半导体制造业茁壮成长,加速发展的历史,也必将为中国半导体制造业未来的强盛壮大作出贡献。

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安柏来联合NanoSystem参加SEMICON China 2014

2014-04-12

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